光電器件檢測光纖輸出多波長高功率LD光源

光電器件檢測光纖輸出多波長高功率LD光源

1. 高功率 & 多波長
   15 mW–100 mW 連續(xù)可調(diào)（波長不同功率上限不同），可選 375 nm–1064 nm 共 14 種標(biāo)準(zhǔn)波長，覆蓋紫外到近紅外，可針對(duì)不同光學(xué)鍍膜、材料或探測器響應(yīng)波段做匹配測試

   。
2. 1 m 多模光纖輸出
   采用 SI105/125 μm、NA0.22 多模光纖，末端 FC/PC 連接器，出光斑直徑≈0.8 mm，可直接對(duì)準(zhǔn) PD、PMT、光纖跳線或光學(xué)鏡片，實(shí)現(xiàn)“非接觸"定點(diǎn)照射，避免空間對(duì)準(zhǔn)誤差

   。
3. 溫控 + 恒流雙環(huán)路
   內(nèi)部 TEC 把 LD 芯片穩(wěn)定在 ±0.05 °C，功率漂移＜±2 %，波長漂移＜±0.05 nm，保證長時(shí)間掃描或重復(fù)性測試數(shù)據(jù)一致

   。
4. 脈沖/連續(xù)雙模式
   外接 TTL 可觸發(fā) 0–1 kHz 脈沖，占空比 0–100 % 可調(diào)，方便測量探測器響應(yīng)時(shí)間、飽和特性或熒光壽命 。
5. 手掌大小、自然空冷
   70 × 50 × 100 mm、400 g，無需外置散熱；AC 100–240 V 全球電壓，可直接放在顯微鏡平臺(tái)、探針臺(tái)或積分球支架上

   。
6. 典型檢查場景
• PD/PMT 量子效率掃描：固定波長步進(jìn) 1 nm，記錄響應(yīng)電流
• 光纖跳線損耗測試：375 nm 或 405 nm 端面照射，測量輸出端功率
• 濾光片/透鏡透射率：單波長通過樣品前后功率比對(duì)
• 相機(jī)模組對(duì)準(zhǔn)：520 nm 或 635 nm 光纖出射，作為亞像素級(jí)基準(zhǔn)點(diǎn)